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慧荣科技申请专利，创新存储器测试系统及方法

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2024-11-06 21:39:02
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慧荣科技股份有限公司于 2023 年 6 月向国家知识产权局申请了一项名为“存储器测试系统及存储器测试方法”的专利，该专利的公开号为 CN 118824343 A。

慧荣科技申请专利，创新存储器测试系统及方法

根据专利摘要，该存储器测试方法包括：测试装置从控制器接收第一测试路径文件。根据该文件读取测试装置中的第一测试设定文件。依据该设定文件对当前耦接存储器执行第一测试程序，以找出其中的一或多个初始损坏区块。在第一测试程序完成后，在当前耦接存储器中写入第一测试纪录文件。在进行第二测试程序之前，判断当前耦接存储器中是否存在第一测试纪录文件。通过在存储器中写入测试纪录文件，测试装置能够确认存储器是否执行过相关测试程序，从而自动执行不同的测试程序。

本文源自：金融界

作者：情报员

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